產(chǎn)品時間：2024-07-03
德國EPK MiniTest1100/2100/3100/4100涂層測厚儀包括四種不同的主機，各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能； 所有型號均可配所有探頭； 可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機； 可使用一片或二片標準箔校準。
德國EPK MiniTest1100/2100/3100/4100涂層測厚儀
EPK涂鍍層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100技術(shù)特征：
| 型號 | 1100 | 2100 | 3100 | 4100 |
| MINITEST 存儲的數(shù)據(jù)量 | ||||
| 應用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù)) | 1 | 1 | 10 | 99 |
| 每個應用行下的組(BATCH)數(shù)(對組內(nèi)數(shù)據(jù)自動統(tǒng)計計算，并可設(shè)寬容度極限值) | 1 | 500 | ||
| 可用各自的日期和時間標識特性的組數(shù) | 1 | |||
| 數(shù)據(jù)總量 | 10000 | 10000 | 10000 | |
| MINITEST統(tǒng)計計算功能 | ||||
| 讀數(shù)的六種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar | √ | √ | √ | |
| 讀數(shù)的八種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk | √ | √ | ||
| 組統(tǒng)計值六種x,s,n,max,min,kvar | √ | √ | ||
| 組統(tǒng)計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk | √ | √ | ||
| 存儲顯示每一個應用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù) | √ | |||
| 分組打印以上顯示和存儲的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計值 | √ | √ | ||
| 顯示并打印測量值、打印的日期和時間 | √ | √ | √ | |
| 其他功能 | ||||
| 設(shè)置極限值 | √ | √ | ||
| 連續(xù)測量模式快速測量，通過模擬柱識別最大最小值 | √ | √ | ||
| 連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀數(shù) | √ | √ | ||
| 連續(xù)測量模式中顯示最小值 | √ | √ | ||
德國EPK MiniTest1100/2100/3100/4100涂層測厚儀可選探頭參數(shù)：
所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇最適用的探頭時需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的
形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭：測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭：測量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭：同時具備F型和N性探頭的功能
F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭，用于管內(nèi)測量。
N.08Cr適合銅上鉻，F(xiàn)N2也適合銅上鉻。
CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。
EPK涂鍍層測厚儀MiniTest 1100/2100/3100/4100探頭
 | FN1.6 0～1600μm,φ5mm 兩用測頭，可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層 量程低端分辨率很高(O.1μm) |
 | FN1.6P 0～1600μm,φ30mm 兩用測頭， 特別適合測粉末狀的覆層厚度 |
 | FN2 0～2000μm,φ5mm 兩用測頭，可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層 |
 | F05 0～500μm,φ3mm 磁性測頭，適于測量細小鋼鐵物體的薄覆層，如金屬鍍層，氧化層等 量程低端分辨宰很高(O.1μm) |
 | F1.6 0～1600μm,φ5mm 磁性測頭 量程低端分辨率很高(O.1μm) |
 | F3 0～3000μm,φ5mm 磁性測頭 可用于較厚的覆層 |
 | F1.6/90 0～1600μm,φ5mm 90度磁性測頭 尤其適合于在管內(nèi)壁測量 量程低端分辨率很高(O.1μm) |
 | F2/90 0～2000μm,φ5mm 90度磁性測頭 尤其適合于在管內(nèi)壁測量 |
 | F10 0～10mm,φ20mm 適合測量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層， 如玻璃、塑膠、混凝土等 |
 | F20 0～20mm,φ40mm 適合測量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層， 如玻璃、塑膠、混凝土等 |
 | F50 0～50mm,φ300mm 適合測量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層 |
 | N02 0～200μm,φ2mm 非磁性測頭，尤其適合測量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層 量程低端分辨率很高(O.1μm) |
 | N0.8Cr 0～80μm,φ2mm 適用于測量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層 |
 | N1.6 0～1600μm,φ2mm 非磁性測頭，適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層 量程低端分辨率很高(O.1μm) |
 | N2 0～2000μm,φ5mm 非磁性測頭，適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層 |
 | N1.6/90 0～1600μm,φ5mm 磁性測頭，適于測量較薄的絕緣覆層 尤其適合在管內(nèi)壁測量 量程低端分辨率很高(O.1μm) |
 | N2/90 0～2000μm,φ5mm 磁性測頭， 尤其適合在管內(nèi)壁測量 |
 | N10 0～10mm,φ50mm 非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等 |
 | N20 0～20mm,φ70mm 非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等 |
 | N100 0～100mm,200mm 非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等 |
 | CN02 10～200μm,φ7mm 用于測量絕緣材料上的有色金屬覆層，如覆銅板 |
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